Thông tin chung

  English

  Đề tài NC khoa học
  Bài báo, báo cáo khoa học
  Hướng dẫn Sau đại học
  Sách và giáo trình
  Các học phần và môn giảng dạy
  Giải thưởng khoa học, Phát minh, sáng chế
  Khen thưởng
  Thông tin khác

  Tài liệu tham khảo

  Hiệu chỉnh

 
Số người truy cập: 55,118,832

 Cross-sectional X-ray microdiffraction study of a thick AlN film grown on a trench-patterned AlN/a-Al2O3 template
walgreens prints coupons prescription coupon card free printable coupons
Tác giả hoặc Nhóm tác giả: D. T. Khan, S. Takeuchi, J. Kikkawa, Y. Nakamura, H. Miyake, K. Hiramatsu, Y. Imai, S. Kimura, O. Sakata, and A. Sakai
Nơi đăng: Journal of Crystal Growth-Elsevier B. V.
walgreens pharmacy coupon site promo codes walgreens
; Số: 381;Từ->đến trang: 37-42;Năm: 2013
Lĩnh vực: Khoa học; Loại: Bài báo khoa học; Thể loại: Quốc tế
TÓM TẮT
ABSTRACT
X-ray microdiffraction (XRMD) measurements using the AlN 2-201 and 1-210 Bragg reflections were performed to determine the cross-sectional distribution of local residual strain and twisting of crystal domains for a thick AlN film grown on a trench-patterned AlN/α-Al2O3 template. The distribution of the strain components in the [0001] and [11-20] directions, which are perpendicular to the trench lines, was strongly influenced by the presence of voids caused by the trench pattern. The strains in the [1-100] and [11-20] directions determined using the two Bragg reflections were found to be significantly different, and this was shown to be the result of twisting of the crystal domains about the [0001] axis under the influence of anisotropic shear stress in the prismatic planes.
marriage affairs open i want an affair
unfaithful spouse developerstalk.com i dreamed my husband cheated on me
© Đại học Đà Nẵng
 
 
Địa chỉ: 41 Lê Duẩn Thành phố Đà Nẵng
Điện thoại: (84) 0236 3822 041 ; Email: dhdn@ac.udn.vn