Home
Giới thiệu
Tài khoản
Đăng nhập
Quên mật khẩu
Đổi mật khẩu
Đăng ký tạo tài khoản
Liệt kê
Công trình khoa học
Bài báo trong nước
Bài báo quốc tế
Sách và giáo trình
Thống kê
Công trình khoa học
Bài báo khoa học
Sách và giáo trình
Giáo sư
Phó giáo sư
Tiến sĩ
Thạc sĩ
Lĩnh vực nghiên cứu
Tìm kiếm
Cá nhân
Nội dung
Góp ý
Hiệu chỉnh lý lịch
Thông tin chung
English
Đề tài NC khoa học
Bài báo, báo cáo khoa học
Hướng dẫn Sau đại học
Sách và giáo trình
Các học phần và môn giảng dạy
Giải thưởng khoa học, Phát minh, sáng chế
Khen thưởng
Thông tin khác
Tài liệu tham khảo
Hiệu chỉnh
Số người truy cập: 107,013,906
Confidence estimation of feedback information for logic diagnosis
unfaithful spouse
infidelity
i dreamed my husband cheated on me
walgreens prints coupons
prescription coupon card
free printable coupons
Tác giả hoặc Nhóm tác giả:
Quoc Bao Duong, Eric Zamai and Khoi Quoc Tran Dinh
abortion stories gone wrong
read
teenage abortion facts
walgreens pharmacy coupon
walgreen online coupons
promo codes walgreens
Nơi đăng:
The International Journal of Intelligent Real-Time Automation, Engineering Applications of Artificial Intelligence (EAAI)
marriage affairs
open
i want an affair
;
S
ố:
Volume 26, Issue 3;
Từ->đến trang
: 1149–1161;
Năm:
2012
Lĩnh vực:
Kỹ thuật;
Loại:
Bài báo khoa học;
Thể loại:
Quốc tế
TÓM TẮT
ABSTRACT
his paper proposes an estimation method for the confidence level of feedback information (CLFI), namely the confidence level of reported information in computer integrated manufacturing (CIM) architecture for logic diagnosis. This confidence estimation provides a diagnosis module with precise reported information to quickly identify the origin of equipment failure. We studied the factors affecting CLFI, such as measurement system reliability, production context, position of sensors in the acquisition chains, type of products, reference metrology, preventive maintenance and corrective maintenance based on historical data and feedback information generated by production equipments. We introduced the new ‘CLFI’ concept based on the Dynamic Bayesian Network approach and Tree Augmented Naïve Bayes model. Our contribution includes an on-line confidence computation module for production equipment data, and an algorithm to compute CLFI. We suggest it to be applied to the semiconductor manufacturing industry.
© Đại học Đà Nẵng
Địa chỉ: 41 Lê Duẩn Thành phố Đà Nẵng
Điện thoại: (84) 0236 3822 041 ; Email: dhdn@ac.udn.vn