Home
Giới thiệu
Tài khoản
Đăng nhập
Quên mật khẩu
Đổi mật khẩu
Đăng ký tạo tài khoản
Liệt kê
Công trình khoa học
Bài báo trong nước
Bài báo quốc tế
Sách và giáo trình
Thống kê
Công trình khoa học
Bài báo khoa học
Sách và giáo trình
Giáo sư
Phó giáo sư
Tiến sĩ
Thạc sĩ
Lĩnh vực nghiên cứu
Tìm kiếm
Cá nhân
Nội dung
Góp ý
Hiệu chỉnh lý lịch
Thông tin chung
English
Đề tài NC khoa học
Bài báo, báo cáo khoa học
Hướng dẫn Sau đại học
Sách và giáo trình
Các học phần và môn giảng dạy
Giải thưởng khoa học, Phát minh, sáng chế
Khen thưởng
Thông tin khác
Tài liệu tham khảo
Hiệu chỉnh
Số người truy cập: 106,028,252
Microstructural effects of isothermal aging on a doped SAC solder alloy
Tác giả hoặc Nhóm tác giả:
Lahouari Benabou
a
*
,
Laurent Vivet
b
,
Quang Bang Tao
c
and
Ngoc Hai Tran
c
Nơi đăng:
International Journal of Materials;
S
ố:
ISSN: 18625282;
Từ->đến trang
: Vol. 109, No. 1, pp. 76-82;
Năm:
2018
Lĩnh vực:
Khoa học công nghệ;
Loại:
Bài báo khoa học;
Thể loại:
Quốc tế
TÓM TẮT
ABSTRACT
An Sn–Ag–Cu based solder alloy, including Ni, Bi and Sb additives, is investigated in this study under isothermal aging conditions. Shear creep tests are conducted on different aged solder joints with copper substrate, giving the creep resistance evolution with aging time. Microscopy analyses reveal the limited growth of the Cu-rich intermetallic layer due to the Ni content and allow for determination of the time-dependent growth of the Sn-rich intermetallic layer. The aged specimens also exhibit a partial dynamically recrystallized microstructure after creep deformation and a brittle-to-ductile fracture transition is found with occurrence of intergranular cracking in the joint.
© Đại học Đà Nẵng
Địa chỉ: 41 Lê Duẩn Thành phố Đà Nẵng
Điện thoại: (84) 0236 3822 041 ; Email: dhdn@ac.udn.vn