Thông tin chung
  English
  Đề tài NC khoa học
  Bài báo, báo cáo khoa học
  Hướng dẫn Sau đại học
  Sách và giáo trình
  Các học phần và môn giảng dạy
  Giải thưởng khoa học, Phát minh, sáng chế
  Khen thưởng
  Thông tin khác
  Tài liệu tham khảo
  Hiệu chỉnh
 
Số người truy cập: 106,993,771

 Survey on Mutation-based Test Data Generation
Tác giả hoặc Nhóm tác giả: Hanh Le Thi My, Binh Nguyen Thanh, Tung Khuat Thanh
Nơi đăng: International Journal of Electrical and Computer Engineering (IJECE-Scopus indexed, ISSN: 2088-8708); Số: Volume 5 Issue 5;Từ->đến trang: 1164-1173;Năm: 2015
Lĩnh vực: Công nghệ thông tin; Loại: Bài báo khoa học; Thể loại: Quốc tế
TÓM TẮT
The critical activity of testing is the systematic selection of suitable test cases, which be able to reveal highly the faults. Therefore, mutation coverage is an effective criterion for generating test data. Since the test data generation process is very labor intensive, time-consuming and error-prone when done manually, the automation of this process is highly aspired. The researches about automatic test data generation contributed a set of tools, approaches, development and empirical results. In this paper, we will analyse and conduct a comprehensive survey on generating test data based on mutation. The paper also analyses the trends in this field.
ABSTRACT

Constraint based testing; Dynamic symbolic execution; Mutation testing; Search-based test data generation; Test data generation
© Đại học Đà Nẵng
 
 
Địa chỉ: 41 Lê Duẩn Thành phố Đà Nẵng
Điện thoại: (84) 0236 3822 041 ; Email: dhdn@ac.udn.vn