Home
Giới thiệu
Tài khoản
Đăng nhập
Quên mật khẩu
Đổi mật khẩu
Đăng ký tạo tài khoản
Liệt kê
Công trình khoa học
Bài báo trong nước
Bài báo quốc tế
Sách và giáo trình
Thống kê
Công trình khoa học
Bài báo khoa học
Sách và giáo trình
Giáo sư
Phó giáo sư
Tiến sĩ
Thạc sĩ
Lĩnh vực nghiên cứu
Tìm kiếm
Cá nhân
Nội dung
Góp ý
Hiệu chỉnh lý lịch
Thông tin chung
English
Đề tài NC khoa học
Bài báo, báo cáo khoa học
Hướng dẫn Sau đại học
Sách và giáo trình
Các học phần và môn giảng dạy
Giải thưởng khoa học, Phát minh, sáng chế
Khen thưởng
Thông tin khác
Tài liệu tham khảo
Hiệu chỉnh
Số người truy cập: 107,050,396
Ab-initio study of electronic and optical properties of biaxially deformed single-layer GeS
Tác giả hoặc Nhóm tác giả:
Khang D. Phama,b, Chuong V. Nguyenc,∗∗, Huynh V. Phucd, Tuan V. Vue,f, Nguyen V. Hieug, Bui D. Hoii, Le C. Nhanh, Vo Q. Nhaj, Nguyen N. Hieuk,∗
Nơi đăng:
Superlattices and Microstructures;
S
ố:
120;
Từ->đến trang
: 501-507;
Năm:
2018
Lĩnh vực:
Tự nhiên;
Loại:
Bài báo khoa học;
Thể loại:
Quốc tế
TÓM TẮT
ABSTRACT
Inthe presentwork,using density functionaltheory(DFT), weinvestigate theinfluence ofbiaxial strain εb on electronic and optical properties of single-layer GeS. Our DFT calculations show that single-layer GeS is a semiconducting material at equilibrium and semiconductor-metal phase transition may occur at large compression biaxial strain. The optical absorption of single-layer GeS is high in the range of the middle ultraviolet lights. Besides, the biaxial has a great impact on the optical spectra of single-layer GeS in the high energy domains. The semiconductor-metal phase transition and the computational results of the absorption of GeS can provide more useful information for applications in nanoelectromechanical and optoelectronic devices.
© Đại học Đà Nẵng
Địa chỉ: 41 Lê Duẩn Thành phố Đà Nẵng
Điện thoại: (84) 0236 3822 041 ; Email: dhdn@ac.udn.vn